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Equipamento de teste de qualidade de Xangai Co., Ltd.
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Equipamento de teste de qualidade de Xangai Co., Ltd.

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Escalões de rigor

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Visão geral

As propriedades das células solares de perovskite são afetadas pela qualidade e espessura da película fina. O filme de alta qualidade melhora a eficiência da transmissão de eletrônicos e buracos vazios, reduzindo a perda de energia e prolongando a vida útil do transportador. A otimização dos processos de preparação, como o uso de solventes de baixa toxicidade e a recolha a vapor fechado, pode melhorar a cristalidade e a uniformidade da película fina e melhorar a eficiência da conversão fotoelétrica (PCE). A série de escalómetros CHT é o primeiro conjunto nacional de escalómetros domésticos desenvolvidos de forma independente e rigorosa, principalmente para medição de parâmetros de micromorfologia como altura de escalões, espessura da camada de membrana e rugosidade da superfície. Características de alta precisão e alta resolução, combinadas com uma estrutura de granito para garantir medições repetitivas estáveis e confiáveis. A ponta de medição é equipada com uma sonda de diamante que oferece uma variedade de raios de curvatura de ponta opcionais e a força da sonda é controlada automaticamente por meio de um software dedicado. Com uma câmera colorida padrão para imagem simultânea da amostra e da ponta da agulha, a área da amostra pode ser observada sem distorção e localizada rapidamente. O escalómetro de série CHT de alta qualidade usa uma sonda de controle de deslocamento de pressão de grande curso para entrar em contato com a superfície da amostra, e o micromotor de controle de anel de feedback garante que o valor da pressão seja constante; Quando tocar a escaleira convexa, a micromotriz piezoelétrica levanta a sonda, quando tocar a cavidade, a sonda sonda abaixo, o deslocamento da micromotriz piezoelétrica é a altura da escaleira. A resolução vertical é de 0,1 nm e o desvio repetitivo é menor que 0,5 nm.

Detalhes do produto

Repetibilidade estável

A estrutura de portão de granito é equipada com um sensor de microforça de alta precisão e um scanner de micromovimentos para oferecer alta precisão e repetibilidade de medição: 30 pontos de desvio de varredura de 1 um com precisão inferior a 0,5 nm.


Sonda de diamante

A sonda de diamante é usada para fornecer diferentes especificações para atender às diferentes necessidades dos clientes de escalómetros.


Área de amostra de observação sem distorção

O sistema é equipado com câmeras para monitorar o estado de varredura da sonda em tempo real e a área de varredura observável, sem distorções na área de observação da amostra.


Função de ajuste de postura espacial da amostra

Equipado com mesa de deslocamento XY de precisão, plataforma de rotação de 360 °, pode ajustar a posição espacial da amostra XYZ, ângulo e outros, para melhorar a precisão e eficiência da medição.


Aplicações de semicondutores

1) A altura dos degraus do filme depositado

2) Altura da etapa do resistente (material de membrana macia)

3) Determinação da taxa de gravação

4) Polimento mecânico químico (corrosão, recessão, curvatura)


Medição da altura das escadas de titânio


盖钛矿台阶高度测量


半导体

Aplicações para substratos de vidro e monitores

1) AMOLED

2) medição de altura em etapas de desenvolvimento de tela LCD

3) Medição da espessura da película do painel táctil

4) Medição de filme revestido solar

Aplicações de película para dispositivos eletrônicos flexíveis

1) Detector fotoelétrico orgânico

2) Filme orgânico impresso em filme e vidro

3) tela táctil linha de cobre


Modelo

O CHT-TJ02B

amostras

Folha única (espessura≤10mm) Personalizável

Tamanho do wafer e percurso

6 polegadas ≤150mm

8 polegadas ≤200mm

12 polegadas ≤300mm

Desvio de medição repetitivo

≤0.5nm (1σ 1um bloco padrão repetido 30 vezes)

Área máxima de medição

80um

Resolução vertical

0.05nm alcance completo

Ampliação da sonda

0,5 ~ 50mg

Controle de força

Constante

Velocidade de amostragem

200 Hz

Comprimento máximo de digitalização

55 milímetros

Direção de varredura

Direita e Esquerda

Resolução de digitalização

10nm

Digitalizar o máximo de pontos de coleta

Dois milhões.

Velocidade de digitalização

5um / s - 50um / s

Planificação da varredura

20 nm / 2 milímetros

Modo de movimento da amostra

Controle manual horizontal (X/Y) e rotativo (RZ) possível

Repetibilidade da amostra XY


± 5um

Viagem do banco de amostras Z

10 milímetros

Mesa rotativa da amostra

360º

360º

Sonda padrão

Raio de curvatura ≥2um ângulo 60° (padrão)

Sondas submicrônicas

Ángulo de raio de curvatura ≤1um 60°

Funções do software

Medição de degraus, rugosidade, planicidade e deformação

Sensores de sonda

Inerência ultrabaixa, sensor LVDC