Espectrómetro de fluorescência de raios X disperso de comprimento de onda ZSX Primus III+

Ciência japonesaEspectrómetro de fluorescência de raios X disperso de comprimento de ondaWDXRF de alto desempenho para análise quantitativa elementar rápida!

ZSX Primus III+

O ZSX Primus III+ fornece uma rápida quantificação dos elementos atómicos primários e secundários, com uma ampla gama de tipos de amostras com padrões mínimos, desde oxigênio (O) até urânio (U).

Sistema óptico de alta confiabilidade

O ZSX Primus III+ apresenta uma nova configuração óptica de irradiação superior. Os usuários não precisam mais se preocupar com a poluição do caminho ou o tempo de parada devido à manutenção da sala de amostras. A geometria irradiada superior elimina a preocupação com a limpeza e aumenta o tempo.

Posicionamento de amostras de alta precisão

O posicionamento de alta precisão da amostra garante uma distância constante entre a superfície da amostra e o tubo de absorção do X. Isso é importante para aplicações que exigem alta precisão, como a análise de ligas. O ZSX Primus III+ executa análises de alta precisão com uma configuração óptica única para reduzir erros devido a superfícies não planas em amostras, como o electrofusível e o laminado.

Software de parâmetros básicos SQX com software de varredura EZ

Os usuários podem usar o software de varredura EZ para analisar amostras de localização sem nenhuma configuração prévia. Esta característica de poupança de tempo basta clicar com o mouse e digitar o nome da amostra. Combine o software de parâmetros básicos SQX para fornecer rapidamente os resultados de XRF mais precisos. O SQX corrige automaticamente todos os efeitos da matriz, incluindo sobreposições de linhas. O SQX também pode auxiliar os efeitos de excitação através da correção fotoeletrônica (elementos leves e ultraleves), ambientes em mudança, impurezas e diferentes tamanhos de amostra. Aumente a precisão com bibliotecas de correspondência e análises de digitalização perfeitas.

Features

Análise elementar de O a U

Óptica irradiada superior minimiza a poluição

Poupança de espaço em laboratório

Posicionamento de amostras de alta precisão

Óptica especial reduz erros devido à curvatura da superfície da amostra

Ferramentas de software para controle estatístico de processos (SPC)

Otimizar a taxa de vazamento e vazamento de vácuo para melhorar o rendimento