Detalhes sobre a multifuncionalidade combinada do difractor de raios X Ultima IV:

I. Introdução ao Instrumento

Multifunção combinadaXDiffractor de raiosUltima IVA série é um cristal multifuncional de alto desempenhoXDiffractor de raios, que adota a ciência *CBOSistema óptico cruzado, um instrumento pode ser realizado a partir de amostras de pó comum para incluirIn-PlaneTeste de amostras de filme incluído. Usando uma estrutura combinada, vários testes podem ser realizados através de diferentes combinações de cada unidade.

Parâmetros técnicos

1. XA potência do gerador de raios é3KW

2. Angulômetro para Angulômetro Horizontal

3. Angulômetro zui pequeno passo para1/10000grau

4. Fendas variáveis programáticas para medidores de ângulo

5. Monocromático de grafito com alta eficiência de reflexão

6. CBOVia óptica cruzada, fornecendo uma via óptica focada e uma via óptica paralela de alta intensidade e alta resolução (comMirror(Exclusivamente Científico)

7. Componente de teste de dispersão de pequeno ângulo

8. Componentes de teste de película multiusos

9. Componentes de teste de microzona

10. In-PlaneComponente de teste (exclusivo da ciência)

11. Detector de alta velocidadeD/teX-Ultra

12. XDifração de raios-Dispositivo de medição simultânea do calométrico de varredura diferencialXRD-DSC

13. O software de análise inclui:XRDAnálise de pacotes,NANO-Solverpacotes de software,GXRRPacotes de software, etc.

III. Características principais

Multifunção combinadaXDiffractor de raiosUltima IVA série pode ser amplamente aplicada em várias áreas da análise estrutural de vários materiais.

Os materiais que podem ser analisados incluem: materiais metálicos, materiais inorgânicos, materiais compostos, materiais orgânicos, nanomateriais, materiais supercondutores.

Os estados dos materiais que podem ser analisados incluem: amostras em pó, amostras em blocos, amostras de película fina, amostras em microregiões

As principais aplicações são:

1. Biofase e análise quantitativa de amostras de pó

2. Cálculo da cristalização, tamanho do grão

3. Determinação do sistema de cristal, tamanho do grão e distorção

4. RietveldAnálise estrutural

5. Análise de amostras de película fina, incluindo fase fina, espessura de camadas múltiplas, rugosidade da superfície, densidade de carga

6. In-PlaneO dispositivo mede simultaneamente a estrutura vertical da amostra e a estrutura da profundidade da amostra

7. Dispersião angular pequena e distribuição de tamanho de partículas de nanomateriais

8. Análise de amostras de microzona